• CONTACT
  • LAST ISSUE
  • IN PROGRESS
  • EARLY VIEW
  • ACCEPTED PAPERS
GET_pdf delibra

Volume 16 (2) 2010, 135-139

The Sequence Project of the Control Plan of Reliability of the Weibull Model Distribution

Grubicka Joanna

Pomeranian Academy Slupsk, Poland
narl@poczta.onet.pl

Received:

Received: 26 April 2010; revised: 16 June; accepted: 17 June 2010; published online: 27 September 2010

DOI:   10.12921/cmst.2010.16.01.135-139

OAI:   oai:lib.psnc.pl:720

Abstract:

It is no exaggeration to say that the PN-IEC 61124 standard is inapplicable in many branches e.g. electronic industry. It is because PN-IEC 61124 assumes failure rate to be constant in time. This paper rejects this assumption and presents mathematical foundation of an alternative of PN-IEC 61124 applicable in electronic industry.

Key words:

Laplace transforms, reliability test, renewal process, Weibull distribution

References:

[1] A. Drapella, Lifetime models and renewal processes. Numerical treatment with Mathcad. Pomeranian Pedagogical Academy, Słupsk, 72-73 (2002).
[2] A. Drapella, Metoda fuzji i korekcji danych niezawodnościowych. Raport z pracy w ramach Grant KBN System ekspertowy wspomagania analiz niezawodnościowych i probabilistycznych zespołów energetycznych. Politechnika Gdańska 1994.
[3] J. Grubicka, Wyznaczanie gęstości odnowy metodą rozkładu zastępczego. Warszawa 2004 (PAN, praca doktorska).
[4] J. Grubicka, Wyznaczanie przybliżonej gęstości odnowy w przypadku weibullowskiego rozkładu czasu pracy do uszkodzenia metodą rozkładu zastępczego. (cz. II) SPM-F 25
(2002).
[5] N.L Johnson, S. Kotz, Distributions in statistics. Continuous univariate distributions. (2 vols.) Houghton Mifflin, Boston 1970.
[6] PN-IEC 61124:2003. Badanie nieuszkadzalności – Badania zgodności w przypadku stałej intensywności uszkodzeń i stałej intensywności strumienia uszkodzeń.
[7] PN-EN 61124:2006. Badanie nieuszkadzalności – Badania zgodności w przypadku stałej intensywności uszkodzeń i stałej intensywności strumienia uszkodzeń.
[8] PN-IEC 60605-6:2002. Badanie nieuszkadzalności urządzeń. Część 6: Weryfikowanie hipotez o stałej intensywności uszkodzeń i stałej intensywności strumienia uszkodzeń.
[9] PN-EN 61703:2005. Wyrażenia matematyczne dotyczące nieuszkadzalności, gotowości, obsługiwalności i zapewnienia środków obsługi.
[10] W. Weibull, Statistical distribution function of wide applicability. Journal Applied Mechanics 293-317 (1951).

  • JOURNAL MENU

    • AIMS AND SCOPE
    • EDITORS
    • EDITORIAL BOARD
    • NOTES FOR AUTHORS
    • CONTACT
    • IAN SNOOK PRIZES 2015
    • IAN SNOOK PRIZES 2016
    • IAN SNOOK PRIZES 2017
    • IAN SNOOK PRIZES 2018
    • IAN SNOOK PRIZES 2019
    • IAN SNOOK PRIZES 2020
    • IAN SNOOK PRIZES 2021
    • IAN SNOOK PRIZES 2024
  • GALLERY

    CMST_vol_24_1_2018_okladka_
  • LAST ISSUE

  • MANUSCRIPT SUBMISSION

    • SUBMIT A MANUSCRIPT
  • FUTURE ISSUES

    • ACCEPTED PAPERS
    • EARLY VIEW
    • Volume 31 (1) – in progress
  • ALL ISSUES

    • 2024
      • Volume 30 (3–4)
      • Volume 30 (1–2)
    • 2023
      • Volume 29 (1–4)
    • 2022
      • Volume 28 (4)
      • Volume 28 (3)
      • Volume 28 (2)
      • Volume 28 (1)
    • 2021
      • Volume 27 (4)
      • Volume 27 (3)
      • Volume 27 (2)
      • Volume 27 (1)
    • 2020
      • Volume 26 (4)
      • Volume 26 (3)
      • Volume 26 (2)
      • Volume 26 (1)
    • 2019
      • Volume 25 (4)
      • Volume 25 (3)
      • Volume 25 (2)
      • Volume 25 (1)
    • 2018
      • Volume 24 (4)
      • Volume 24 (3)
      • Volume 24 (2)
      • Volume 24 (1)
    • 2017
      • Volume 23 (4)
      • Volume 23 (3)
      • Volume 23 (2)
      • Volume 23 (1)
    • 2016
      • Volume 22 (4)
      • Volume 22 (3)
      • Volume 22 (2)
      • Volume 22 (1)
    • 2015
      • Volume 21 (4)
      • Volume 21 (3)
      • Volume 21 (2)
      • Volume 21 (1)
    • 2014
      • Volume 20 (4)
      • Volume 20 (3)
      • Volume 20 (2)
      • Volume 20 (1)
    • 2013
      • Volume 19 (4)
      • Volume 19 (3)
      • Volume 19 (2)
      • Volume 19 (1)
    • 2012
      • Volume 18 (2)
      • Volume 18 (1)
    • 2011
      • Volume 17 (1-2)
    • 2010
      • Volume SI (2)
      • Volume SI (1)
      • Volume 16 (2)
      • Volume 16 (1)
    • 2009
      • Volume 15 (2)
      • Volume 15 (1)
    • 2008
      • Volume 14 (2)
      • Volume 14 (1)
    • 2007
      • Volume 13 (2)
      • Volume 13 (1)
    • 2006
      • Volume SI (1)
      • Volume 12 (2)
      • Volume 12 (1)
    • 2005
      • Volume 11 (2)
      • Volume 11 (1)
    • 2004
      • Volume 10 (2)
      • Volume 10 (1)
    • 2003
      • Volume 9 (1)
    • 2002
      • Volume 8 (2)
      • Volume 8 (1)
    • 2001
      • Volume 7 (2)
      • Volume 7 (1)
    • 2000
      • Volume 6 (1)
    • 1999
      • Volume 5 (1)
    • 1998
      • Volume 4 (1)
    • 1997
      • Volume 3 (1)
    • 1996
      • Volume 2 (1)
      • Volume 1 (1)
  • DATABASES

    • AUTHORS BASE
  • CONTACT
  • LAST ISSUE
  • IN PROGRESS
  • EARLY VIEW
  • ACCEPTED PAPERS

© 2025 CMST